試料サンプルを交換中の佐々木敏雄さん

佐々木敏雄さんは、FIB/SEM装置から試料サンプルを取り出して、顕微鏡を再校正するために使用されるカートリッジと入れ替えています。カートリッジは様々な材料を含んでおり、それぞれ特定の方向と速度で電子を屈折させます。FIB/SEM装置は、これらの電子を測定し、それに応じて検出システムを調整します。