コーティングしたグラファイト・マイクロビーズの走査型電子顕微鏡画像
コーティングしたグラファイト・マイクロビーズの走査型電子顕微鏡画像。緑色の領域はシリコンを示し、絶縁コーティングの存在が確認できる。
日付:
2024年4月5日
Copyright OIST (Okinawa Institute of Science and Technology Graduate University, 沖縄科学技術大学院大学). Creative Commons Attribution 4.0 International License (CC BY 4.0).
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