機材

DSA1ソフトウェアと組み合わせることで、液滴形状を高精度に解析し、表面張力や接触角を評価できるシステムです。

薄膜X線回折装置：薄膜試料を非破壊で分析し、結晶構造を特定。 表面の配向を測定。

NanoCalc 分光反射率計は、さまざまな標準的な薄膜構造において、薄膜の厚さおよび光学定数を正確かつ非破壊で測定することを可能にします。

Velox™ソフトウェアにより、ウェーハナビゲーション、自動化、測定機器連携を高効率で行える電気特性評価用プローブステーション。