JEOL ARM200F Transmission Electron Microscope TEM
Manufacturer: JEOL
Model: JEM-ARM200F
Features:
Acc. Voltage: 60 - 200 keV
A device capable of observing atoms with high resolution, TEMmode and STEM mode (with Cs correction function), an EDXdetector and an EELS detector. (Scanning resolution: 0.078 nm)
機器No.:
IMG-E002
メーカー:
JEOL
モデル:
ARM200F
導入年:
2016
カテゴリー
セクション
外部貸出:
はい
操作:
ユーザー/スタッフ操作
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