JEOL ARM200F Transmission Electron Microscope TEM
![ARM](/sites/default/files/styles/embed_lg_1x/public/2024-05/Jeol%20ARM200.jpg?itok=BxIdOKT4)
Manufacturer: JEOL
Model: JEM-ARM200F
Features:
Acc. Voltage: 200 keV
A device capable of observing atoms with high resolution, TEM mode and STEM mode (with Cs correction function), an EDX detector and an EELS detector. (Scanning resolution: 0.078 nm)
機器No.:
IMG-E002
メーカー:
JEOL
モデル:
ARM200F
導入年:
2016
カテゴリー
セクション
外部貸出:
はい
操作:
ユーザー/スタッフ操作